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日本ARK檢查高照度型檢查燈AT-50C 功耗80W和1，400，000Lx！ *1 它具有簡單的設計和調光音量。 它可以用作金屬鹵化物燈的替代品。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1525
日本ARK目視檢查的立式白光LED光源LS-HF-W 光學測量儀
日本ARK目視檢查的立式白光LED光源LS-HF-W 這是一種用于目視檢查的立式白光LED光源。 由于自然散熱，不會產生灰塵，使其成為潔凈室的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1444
日本ARK用于檢查的白色 LED 光源 LS-HF-1.5 光學測量儀
日本ARK用于檢查的白色 LED 光源 LS-HF-1.5 這是一款用于檢查的白色 LED 光源，由于其無風扇設計，具有出色的安靜運行。 它不會排放灰塵，非常適合在潔凈室中使用。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1419
日本ARK標準光源250W Hg-Xe燈AT250S 光學測量儀
日本ARK標準光源250W Hg-Xe燈AT250S 它是配備250W Hg-Xe燈的標準光源。 它可用于廣泛的應用，例如暴露和附著力、化學反應評估和表面處理。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1420
日本ARK表面照明LED光源 MS-80 它是一種光源，可以將光以高度均勻性照射到任何區域和形狀。 光學設計使照射均勻性達到3%或更低。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1366
日本ARK線照明UV-LED光源LS-180 這是一種UV-LED光源，以線條形狀發射高強度紫外線。 我們提供滿足您需求的光源，例如線長、寬、波長和紫外線強度。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1427
LS-1-RAL3日本ARK用于半導體標線對準的UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK用于半導體標線對準的UV-LED光源LS-1-RAL3 這是一種UV-LED光源，用作標線對準的照明。 通過切換到獨立的LED照明進行標線對準，可以照射具有高穩定性和長壽命的高質量光。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1483
日本ARK表面輻照通用UV-LED光源 MS20LX-365 光學測量儀
日本ARK表面輻照通用UV-LED光源 MS20LX-365 它是一種UV-LED光源，可以高強度照射Φ20~30mm區域。 UV-LED 燈頭緊湊地組合了多個 LED，可有效照亮所需區域。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1374
日本ARK點照射UV-LED固化燈LS-4C 它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學元件和非常小的部件的理想選擇。 此型號專為獨立使用而設計。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1441
SF-IR54-4-406日本ARK液晶面板周邊曝光的UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK液晶面板周邊曝光的UV-LED光源SF-IR54-4-406 這是一種用于液晶面板周邊曝光的UV-LED光源。 通過將使用UV燈和光導的傳統方法改為UV-LED頭方法，大大有助于延長光源的使用壽命并降低維護成本。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1368
EW04S日本ARK高輸出型晶圓外圍曝光UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK高輸出型晶圓外圍曝光UV-LED光源EW04S 用于g線和i線光刻膠晶圓外圍曝光的UV-LED光源。 光學設計可實現 7，000 mW/cm² 或更高的高輸出。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1426
EW01S日本ARK用于晶圓外圍器件曝光的UV-LED光源 光學測量儀
日本ARK用于晶圓外圍器件曝光的UV-LED光源EW01S 用于g線和i線光刻膠晶圓外圍曝光的UV-LED光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1307
日本ARK點照射通用光源AGIL-V 它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學元件和非常小的部件的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1070
YP-150I/YP-250I日本yamada半導體晶圓瑕疵檢查燈 光學測量儀
日本yamada半導體晶圓瑕疵檢查燈YP-150I/YP-250I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-23 訪問量：1218
YP-150I/YP-250I日本yamada半導體行業用目視檢查燈 光學測量儀
日本yamada半導體行業用目視檢查燈YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1533
