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日本ccsawaki微型大功率LED光源FOLS-09 光學測量儀
日本ccsawaki微型大功率LED光源FOLS-09 紫外線、藍色、可見光和紅外區域提供各種波長，因此您可以根據您的應用選擇最合適的波長。
更新日期：2024-03-23 訪問量：937
日本ccsawaki光纖輸出型光源FOLS-08 光學測量儀
日本ccsawaki光纖輸出型光源FOLS-08 FOLS-08是光纖輸出型光源，使用內部脈沖電路反復發射最大1MHz的脈沖光。
更新日期：2024-03-23 訪問量：900
ccsawaki光纖輸出型半導體激光光源FOLS-07 光學測量儀
ccsawaki光纖輸出型半導體激光光源FOLS-07 FOLS-07是一種光纖輸出半導體激光光源，通過外部驅動發射脈沖光。
更新日期：2024-03-23 訪問量：924
ccsawaki反射率/透射率測量的光源FOLS-05 FOLS-05是一種光纖輸出寬帶光源，通過將三種類型的LED元件組合成一根光纖來輸出它們。
更新日期：2024-03-23 訪問量：880
日本ccsawaki超發光光源FOLS-04 FOLS-04是一款集輸出SM光纖、隔離器、SLD元件、驅動電路、溫控電路、電源于一體的超發光光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：951
日本ccsawaki緊湊型高功率激光光源FOLS-03 光學測量儀
日本ccsawaki緊湊型高功率激光光源FOLS-03 FOLS-03是集成了輸出光纖、半導體激光元件、驅動電路、溫度控制電路和電源的緊湊型高功率激光光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：972
日本ccsawaki半導體激光元件光源FOLS-02 光學測量儀
日本ccsawaki半導體激光元件光源FOLS-02 FOLS-02是集輸出SM光纖、半導體激光元件、驅動電路、溫控電路、電源于一體的緊湊型半導體激光光源。 只需打開電源，SM光纖端就會立即輸出毫瓦量級的激光。 由于半導體激光元件是溫度控制的，因此長時間具有出色的輸出穩定性和波長穩定性。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1071
日本ccsawaki超緊湊型 LED 光源FOLS-01 光學測量儀
日本ccsawaki超緊湊型 LED 光源FOLS-01 只需打開電源，LED燈就會立即從光纖端輸出。 LED 元件允許根據應用從白色、紫外線、可見光和紅外區域選擇波長。 外部TTL輸入也可用于閃爍火焰。
更新日期：2024-03-23 訪問量：991
日本ccsawaki光纖輸出型 LED 光源FOLS-06 光學測量儀
日本ccsawaki光纖輸出型 LED 光源FOLS-06 FOLS-06 是一種光纖輸出型 LED 光源，可通過外部準備的電源或函數發生器進行模擬調制。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1111
日本ccsawaki光纖輸出LED光源FOLS-10 光學測量儀
日本ccsawaki光纖輸出LED光源FOLS-10 LED 元件允許根據應用從白色、紫外線、可見光和紅外區域選擇波長。 輸出光纖可以選擇用于高功率的 600 μm 芯石英光纖或用于細光束的 200 μm 芯石英光纖。
更新日期：2024-03-23 訪問量：980
日本horiba浸入式濁度儀HU-200TB-IM 光學測量儀
日本horiba浸入式濁度儀HU-200TB-IM HU-200TB-IM 與浸入式濁度 SS 傳感器 （SS-150） 結合使用，以測量濁度和 SS 管理。 傳感器可以直接浸入樣品罐中。 非常適合管理廢水和進水量的濁度和SS。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1512
日本union研發臺式光刻設備EMA-400 該產品是一種節省空間且易于操作的掩模對準器，具有高性能和低成本，使其成為大學和企業實驗室的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1205
likuan will用于 OIS 的光學傳感器FD-1067 光學測量儀
likuan will用于 OIS 的光學傳感器FD-1067 它是一種光學傳感器，使用兩個激光器同時測量傾斜、行程和行程。 傾斜和行程測量使用落射照明。 此外，還可以使用反射光同時進行行程測量。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1408
likuan will自動對焦的光學傳感器TD-1090 光學測量儀
likuan will自動對焦的光學傳感器TD-1090 它是一種光學傳感器，使用兩個激光器同時測量傾斜和行程。 傾斜測量使用落射照明。 此外，還可以使用反射光同時進行行程測量。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1671
optiworks 4D技術動態干涉儀PhaseCam6000 光學測量儀
optiworks 4D技術動態干涉儀PhaseCam6000 具有“動態干涉測量”（30微秒標準）的超快干涉測量4D Technology“動態干涉測量”可以在振動不可避免的地方以及遠處移動的物體和樣品進行測量。
更新日期：2024-03-23 訪問量：2476
