接觸與非接觸一鍵切換：Napson DUORES破解柔性電子與Low-E玻璃測量難題

發布日期：2026-03-05      瀏覽次數：114

在導電薄膜材料的研發與生產中，方阻（Sheet Resistance）測量是品質管控的關鍵一環。然而，面對日益多樣化的材料體系——從硬質的ITO玻璃到柔軟的金屬納米線薄膜，從高價值的Low-E鍍膜玻璃到脆弱的石墨烯單層——傳統的單一測量方式往往陷入兩難：接觸式測量精度高，卻可能損傷樣品；非接觸式測量安全，卻難以覆蓋寬量程。

日本Napson公司推出的DUORES手持式面電阻測試儀，以獨1創的“可替換雙探頭”設計，徹1底打破了這一僵局。

一機雙探，精準應對兩大測量難題

DUORES的核心創新在于將兩種物理原理的測量技術集成于一臺便攜主機，用戶可根據樣品特性，在“接觸”與“非接觸”模式間一鍵切換。

解決痛點1：柔性電子材料的無損測量

隨著可穿戴設備與柔性顯示屏的發展，金屬納米線、金屬網格、碳納米管（CNT）及石墨烯等新型柔性導電材料成為研究熱點。這類材料基底柔軟、涂層極薄，傳統四探針針尖極易劃傷樣品表面，造成不可逆的損壞。

應對方案：更換為非接觸式探頭（渦電流法）。探頭無需接觸樣品，通過電磁感應即可完成測量，徹1底杜絕物理損傷。

應用價值：特別適合金屬納米銀線薄膜、石墨烯等昂貴或脆弱材料的研發抽檢與來料檢驗。

解決痛點2：Low-E玻璃及硬質鍍層的快速品控

Low-E（低輻射）玻璃是建筑節能的核心材料，其上的多層金屬或金屬氧化物鍍層直接決定了隔熱性能。這類樣品面積大、價值高，且要求快速響應。

應對方案：針對常規導電薄膜（如ITO、TCO），可使用高精度的接觸式四探針探頭，獲得0.001-4000 Ω/sq的寬范圍數據。

擴展能力：對于已安裝的成品玻璃或怕劃傷的涂層，同樣可切換至非接觸探頭進行無損復檢，實現“一臺設備，覆蓋全流程”。

技術亮點：不止于“雙模”

除了核心的雙探頭設計，DUORES在用戶體驗上也做到了極1致：

自動測量，即放即得：當探頭放置或接觸樣品時，設備自動啟動測量，無需按鍵操作，極大提升檢測效率。

超長續航，海量存儲：電池模式下可連續工作24小時，滿足整天產線巡查需求；機身可存儲高達50,000組數據，并通過USB-Mini輕松導出。

靈活的單位顯示：支持Ω/sq（方阻）、S/sq（電導）及n/m（金屬膜厚度換算）三種單位，4位浮動小數點顯示，數據直觀。

規格參數速覽

為了幫助您更直觀地了解DUORES的測量能力，以下是其核心規格：

探頭類型	測量原理	測量范圍 （Ω/sq）	測量光斑	典型應用
非接觸式探頭	渦電流法	0.5 - 200	φ25mm	金屬納米線、金屬網格、Low-E玻璃、脆性薄膜
接觸式探頭	四探針法	0.001 - 4000	9mm	ITO、TCO、碳納米管、石墨烯、金屬薄膜

 

 

主機尺寸與重量：W100 x D32 x H210 mm，約350g（不含電池），輕巧便攜。

數據精度：接觸式探頭精度可達≦±0.5%；非接觸式探頭在0.5~100Ω/sq范圍內重復性≦3.0%。

結語

在材料科學日新月異的今天，一臺能“包容”不同材料的測試儀，無疑是實驗室與產線的得力助手。Napson DUORES憑借其“接觸與非接觸一鍵切換”的獨1創設計，真正實現了對從硬質玻璃到柔性薄膜、從高導電金屬到半導體涂層的全覆蓋測量。