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| 參數 | MSP - 100B | MSP - 100IR | MSP - 100UV |
|---|---|---|---|
| 測量波長 | 350-1100nm（可見光為主） | 900-1700nm（近紅外） | 230-800nm（紫外 - 可見光） |
| 核心傳感器 | 背照式 CCD 傳感器 | InGaAs 傳感器 | 背照式 CCD 傳感器 |
| 測量再現性（B 型） | ±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm） | ±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm） | ±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm） |
| 測量 S/N 比（B 型） | 1000:1（400-900nm） | 1000:1（400-900nm） | 1000:1（400-900nm） |
| 測量光斑（10× 物鏡） | φ50μm | φ50μm | φ50μm |
| 樣品曲率半徑 | -1R 至 +∞（可測曲面） | -1R 至 +∞（可測曲面） | -1R 至 +∞（可測曲面） |
| 核心優勢 | 可見光波段高精度，適配常規光學檢測 | 紅外高靈敏度，適合半導體、紅外元件檢測 | 紫外波段精準，適配光刻膠、UV 涂層等檢測 |
波段定位差異
MSP - 100B：覆蓋可見光及少量近紅外，是通用型可見光反射率測量方案，適合多數常規光學元件（如鏡頭、AR/AG 鍍膜玻璃）的日常檢測。
MSP - 100IR：聚焦近紅外波段，針對紅外光學材料、半導體晶圓、紅外傳感器等，能精準捕捉紅外波段反射特性，適配紅外器件研發與質量控制。
MSP - 100UV：延伸至紫外波段，適配紫外敏感材料，如光刻膠薄膜、UV 固化涂層、紫外光學濾鏡等，滿足半導體光刻、紫外光學元件的高精度檢測需求。
傳感器適配
MSP - 100B/UV 用背照式 CCD，在可見 / 紫外區靈敏度高、信噪比優；MSP - 100IR 用 InGaAs 傳感器，保障紅外波段高靈敏度，匹配其波段測量需求。
共性優勢
三款均具備 φ50μm 微小光斑測量能力，采用半反射鏡技術可消除背面反射，無需背面處理即可測薄至 0.2mm 的樣品，支持曲面與平面測量，操作軟件友好，測量快速且重復性強。
按應用場景選型
| 應用場景 | 推薦型號 | 選型理由 |
|---|---|---|
| 光學鏡頭、AR/AG 鍍膜、常規顯示面板 | MSP - 100B | 可見光波段覆蓋全面，滿足常規光學產品反射率檢測需求 |
| 半導體晶圓、紅外傳感器、紅外光學元件 | MSP - 100IR | 近紅外波段適配，匹配紅外器件反射特性分析需求 |
| 光刻膠、UV 涂層、紫外濾鏡、PCB 光刻工藝 | MSP - 100UV | 紫外波段精準測量，適配紫外敏感材料檢測 |
| 跨波段復合檢測 | 組合選型（如 B+UV/B+IR） | 根據實際波段覆蓋需求，搭配兩款設備實現全波段檢測 |
按樣品特性選型
微小區域（φ50μm）、超薄樣品（0.2mm，20× 物鏡）、曲面樣品：三款均可，優先按波段選擇。
低反射率樣品：三款通過光學設計提升集光效率，搭配高靈敏度傳感器，均可快速穩定測量，按波段匹配即可。
按精度需求選型
451-950nm 波段對精度要求高（±0.02%）：三款均可滿足該波段精度；380-450nm/951-1050nm 精度為 ±0.2%，若側重紫外 / 紅外邊緣波段，優先對應型號（UV/IR）。
明確核心測量波段，確定基礎型號（B/IR/UV）。
確認樣品特性（尺寸、厚度、曲面 / 平面、反射率），三款均適配微小 / 超薄 / 曲面樣品，無需額外篩選。
核對精度需求，重點關注目標波段的再現性指標。
若需跨波段測量，可組合兩款型號，覆蓋更寬光譜范圍。
