光學薄膜與晶體材料檢測利器：LUCEO LSM-9002LE應力儀應用案例

發布日期：2025-08-20      瀏覽次數：175

在現代光學制造和材料科學領域，殘余應力是影響產品性能的關鍵因素之一。無論是光學薄膜的均勻性，還是晶體材料的穩定性，細微的應力分布不均都可能導致透光率下降、折射率偏移甚至結構開裂。日本LUCEO公司推出的LSM-9002LE全自動應力儀，憑借其高精度二維分析能力，成為行業認可的檢測解決方案。以下通過實際案例解析其應用價值。

案例1：光學薄膜鍍膜工藝優化

問題：某光學企業生產AR（抗反射）鍍膜玻璃時，發現批次產品存在局部彩虹紋現象，傳統方法無法定位應力異常點。
LSM-9002LE解決方案：

• 通過205×205mm大范圍掃描，快速生成薄膜應力2D分布圖，鎖定彩虹紋對應的高應力區域（延遲值超80nm）。

• 結合軟件橫截面分析功能，發現應力集中與鍍膜機噴口溫度梯度相關。
  結果：調整鍍膜參數后，應力均勻性提升40%，不良率下降至0.5%以下。

案例2：藍寶石晶體切割質量控制

問題：藍寶石襯底在切割后出現邊緣微裂紋，傳統偏光鏡檢測效率低且無法量化。
LSM-9002LE優勢體現：

• 利用1100×1100像素分辨率，精準識別切割路徑上的應力集中點（延遲值突變≥50nm區域）。

• 3D應力云圖直觀顯示裂紋源位于晶體斜切面與主軸方向夾角偏差處。
  結果：優化切割刀具角度后，邊緣應力峰值降低60%，良品率提高至98%。

案例3：樹脂鏡片注塑成型監測

挑戰：注塑成型鏡片因冷卻速率不均導致雙折射問題，影響成像清晰度。
LSM-9002LE的創新應用：

• 全自動測量模式下，單次檢測僅需20秒，實現生產線每10分鐘抽檢1次。

• 通過直方圖統計功能，量化不同冷卻溫度下的應力標準差（σ從12nm降至4nm）。
  效益：建立最佳工藝窗口后，產品光學均勻性達到ISO8980-1標準。

為什么選擇LSM-9002LE？

1. 全自動化：減少人為誤差，適應生產線高頻檢測需求；

2. 量化輸出：CSV數據支持SPC統計過程控制；

3. 跨材料兼容性：玻璃、塑料、晶體、薄膜均可覆蓋。

結語：從實驗室研發到量產管控，LSM-9002LE以1nm級重復精度和可視化分析能力，成為解決材料應力問題的“工業CT"。如需獲取定制化檢測方案，請聯系LUECO中國區代理（北崎國際貿易/深圳秋山貿易）提供技術支持。