YP-250I vs. 185LE：同是400,000 Lux，誰更適合長期產線使用？

發布日期：2025-07-23      瀏覽次數：14

在半導體、面板制造等高精度檢測領域，山田光學YP-250I和SENA 185LE均提供400,000 Lux的超高照度，適用于微米級缺陷檢測。然而，兩者的技術路線、壽命、熱管理和適用場景存在顯著差異，直接影響長期產線使用的選擇。以下是關鍵對比分析：

1. 核心參數對比

指標	山田光學YP-250I	SENA 185LE
光源類型	鹵素燈（冷鏡技術）	金屬鹵素燈
照度	400,000 Lux（60mmφ光斑）	400,000 Lux（55mmφ光斑）
照射距離	220mm	310mm
光源壽命	35小時（需頻繁更換）	3000小時（長壽命）
熱管理	冷鏡技術（熱影響降低至傳統鋁鏡1/3）	強制空冷（需散熱系統）
調光功能	兩級切換（高/低照度）	20%-100%無級調光
電壓適應	AC100V 50/60Hz	AC95V-260V全球電壓
適用行業	半導體晶圓、液晶面板	TFT面板、CF濾光片、觸摸屏制造

關鍵差異：

• 壽命：SENA 185LE（3000小時）遠超YP-250I（35小時），大幅降低維護頻率410。

• 熱管理：YP-250I的冷鏡技術減少熱輻射，適合熱敏感材料；SENA需強制散熱，可能影響環境穩定性36。

• 調光靈活性：SENA支持無級調光，適應不同材料；YP-250I僅兩級切換，靈活性較低48。

2. 長期產線適用性分析

（1）維護成本

• YP-250I：鹵素燈壽命僅35小時，需頻繁更換（每周多次），增加停機時間和燈泡采購成本79。

• SENA 185LE：金屬鹵素燈壽命達3000小時（約4個月連續使用），維護成本顯著降低410。

結論：SENA更適合高負荷連續生產，而YP-250I適用于間歇性檢測或短時高精度需求。

（2）熱穩定性

• YP-250I：冷鏡技術減少熱輻射，適合液晶面板、晶圓等怕熱材料檢測35。

• SENA 185LE：強制空冷可能產生輕微氣流擾動，對超潔凈環境（如光刻車間）或有影響68。

結論：若產線涉及熱敏感材料，YP-250I更優；若環境允許強制散熱，SENA的穩定性更佳。

（3）操作便利性

• YP-250I：固定照射模式，適合標準化檢測流程9。

• SENA 185LE：無級調光+寬電壓適配，適合多規格產品線或全球工廠部署410。

結論：柔性生產場景下，SENA更具優勢。

3. 最終選購建議

場景	推薦型號	理由
7×24小時連續檢測	SENA 185LE	長壽命、低維護、全球電壓適配
熱敏感材料（如液晶）	山田光學YP-250I	冷鏡技術減少熱影響
高反射/透明材料檢測	SENA 185LE	無級調光優化成像
預算有限，間歇使用	山田光學YP-250I	初始成本較低，但需備足替換燈泡

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總結

• 選SENA 185LE：若產線需要長期穩定運行、低維護、多材料適配。

• 選山田YP-250I：若檢測對象對熱敏感，或僅需短時超高亮度照明。