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四款激光體積測定儀橫評:Volscan、BVM、k-axis誰更適合烘焙質檢?

  • 發布日期:2025-07-15      瀏覽次數:24
    • 以下是四款食品體積測定儀(Volscan Profiler、BolScan、BVM-L系列、日本k-axis AR-01)的對比分析,基于技術參數、功能特點、應用場景等方面的綜合評估:

      1. Volscan Profiler

      • 核心技術:激光立體掃描技術,非接觸式測量,支持3D建模。

      • 測量參數:體積、長寬高、每100g面粉體積、樣品形狀(2D/3D圖形)。

      • 精度與速度:體積精度±1%,掃描時間約22秒(樣品高150mm)。

      • 適用場景:

        • 烘焙業(軟面包、含堅果/水果的產品);

        • 質量控制、研發、學術研究。

      • 優勢:

        • 符合AACCI 10-16.01標準;

        • 數據庫支持批量比對;

        • 適應易碎或超軟樣品。

      2. BolScan(推測為BVM系列,如BVM 6600/6640)

      • 核心技術:激光繪圖技術,樣品旋轉半圈完成掃描。

      • 測量參數:體積、長/寬/高、密度、重量(可選),生成3D旋轉圖。

      • 精度與速度:精度±0.5%,檢測時間20-30秒。

      • 適用場景:

        • 烘焙食品(面包、蛋糕、餅干);

        • 面粉企業、食品研發機構。

      • 優勢:

        • 符合AACCI 10-14.01標準;

        • 多型號可選(如BVM 6640支持大樣品);

        • 操作簡易,支持自定義參數。

      3. BVM-L系列

      • 核心技術:全計算機控制激光傳感器,半圈掃描。

      • 測量參數:體積、長/寬/深、比容(需輸入重量),提供二維旋轉圖。

      • 精度與速度:檢測時間10-60秒,無需標定。

      • 適用場景:

        • 食品加工企業、高校研究;

        • 適用于多種烘焙產品。

      • 優勢:

        • 非接觸測量,避免人為誤差;

        • 數據可直接存儲為數據庫文件。

      4. 日本k-axis AR-01

      • 核心技術:雙攝像頭激光掃描,支持高速/高精度模式。

      • 測量參數:體積、長軸/短軸、長寬比、耐嚼性(可選重量/比體積)。

      • 精度與速度:

        • 高精度模式±1%(40秒),高速模式±4%(10秒)。

      • 適用場景:

        • 面包行業(縱橫比/剛度分析);

        • 產線質量控制。

      • 優勢:

        • 無損測量,兼容軟樣品;

        • 即時數據顯示(最大值/最小值/平均值)。

      對比總結

      維度Volscan ProfilerBolScan (BVM系列)BVM-L系列k-axis AR-01
      核心技術3D激光掃描激光旋轉掃描半圈激光掃描雙攝像頭激光掃描
      測量速度22秒(150mm樣品)20-30秒10-60秒10-40秒(模式可選)
      精度±1%±0.5%未明確,但快速±1%(高精度模式)
      數據輸出2D/3D圖形、數據庫比對3D模型、自定義報告二維旋轉圖、Excel存檔CSV文件、形狀圖像
      適用樣品超軟/易碎烘焙品多種尺寸烘焙品通用食品面包、糖果等非規則固體
      行業標準AACCI 10-16.01AACCI 10-14.01未提及兼容行業質量控制需求

      選購建議

      • 研發與學術研究:Volscan Profiler(3D分析能力強)或BVM-L(成本可能更低)。

      • 產線質量控制:k-axis AR-01(高速模式)或BolScan(高精度)。

      • 大樣品需求:BVM 6640(支持45cm高度樣品)。


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