黑白投射密度計T5 PLUS在光學(xué)薄膜材料上的運用

發(fā)布日期：2023-12-13      瀏覽次數(shù)：1113

黑白投射密度計T5 PLUS在光學(xué)薄膜材料上的運用

光學(xué)薄膜是改變光學(xué)零件表面特征而鍍在光學(xué)零件表面上的一層或多層膜。可以是金屬膜、 介質(zhì)膜或這兩類膜的組合。光學(xué)薄膜是各種先進光電技術(shù)中不可少的一部分，它不僅能改善系統(tǒng)性能，而且是滿足設(shè)計目標的必要手段，光學(xué)薄膜的應(yīng)用領(lǐng)域涉及光學(xué)系統(tǒng)的各個方面，包括激光系統(tǒng)，光通信，光顯示，光儲存等，主要的光學(xué)薄膜器件包括反射膜、減反射膜、偏振膜、干涉濾光片和分光鏡等等。

光學(xué)薄膜在我們的生活中無處不在，從精密 及光學(xué)設(shè)備、顯示器設(shè)備到日常生活中的光學(xué)薄膜應(yīng)用；比方說，平時戴的眼鏡、數(shù)碼相機、各式家電用品，或者是錢上的防偽技術(shù)，皆能被稱之為光學(xué)薄膜技術(shù)應(yīng)用之延伸。倘若沒有光學(xué)薄膜技術(shù)作為發(fā)展基礎(chǔ)，近代光電、通訊或是鐳射技術(shù)將無法有所進展，這也顯示出光學(xué)薄膜技術(shù)研究發(fā)展的重要性。

薄膜由分層介質(zhì)構(gòu)成，通過界面?zhèn)鞑ス馐活惞鈱W(xué)介質(zhì)材料，光學(xué)薄膜的應(yīng)用始于20 世紀30年代，光學(xué)薄膜已經(jīng)廣泛用于光學(xué)和光電子技術(shù)領(lǐng)域，制造各種光學(xué)儀器，制備條要求件高而精。

薄膜透光率測試儀是現(xiàn)代光學(xué)檢測中*工具，而黑白投射密度計T5 PLUS則是這一領(lǐng)域。這款儀器利用精密的光學(xué)原理，能夠精確測量薄膜的透光率，為各種薄膜材料的質(zhì)量控制提供了強有力的支持。



黑白透射密度/透過率計T5 plus

特點/測量項目

?濃度測定
?正網(wǎng)點%
?負網(wǎng)點%
?透過率
?校正功能

配件

?孔徑 φ3mm、φ2mm、φ1mm
?使用說明書（帶保證書）
?校準膜
?確認膜
?AC 適配器（9V、500mA）
?通信電纜（另售）
?便攜包（另售）

物品描述

內(nèi)置光臺可實現(xiàn)精確的濃度（透射率）測量。

主要測量對象：薄膜、玻璃、樹脂

可以使用上面列出的材料以外的材料進行測量，只要它們能透光即可。

*對于T5plus標準產(chǎn)品，測量目標的厚度在1mm以內(nèi)。

　即使超過1mm，我們也可以通過修改等方式處理，因此請與我們聯(lián)系。

它具有校正功能，可與其他制造商的密度計兼容。

可以顯示類似的測量值。

通過對標準產(chǎn)品無法適應(yīng)的尺寸和形狀進行修改。