電解膜厚儀GCT-311針對純錫層測量的優勢

發布日期：2023-11-24      瀏覽次數：631

電解膜厚儀GCT-311針對純錫層測量的優勢

膜厚儀是測量覆膜膜厚的一種工具。但即使是相同的涂層測厚儀，不同的人或對不同種類、狀態基材上的相同涂層測量出來的數據也可能會存在較大差別，這是因為測量人員因素、測量漆膜的基體材質、厚度、表面狀況以及測量位置等造成的。因此，在使用測厚儀檢測涂層厚度時，不僅操作方法要正確，還必須針對具體基材進行調整。

電解膜厚儀GCT-311特點



功能齊全，符合 PC 規格

對話框格式使其易于使用和數據處理。
具備電位圖形顯示、統計處理等功能。
最多可注冊 50 個通道的測量條件。



純錫層和合金錫層可分別測量

可對純錫層和合金錫層分別進行“錫/銅"測量。



可進行雙/三鎳測量

可以在使用參考電極（可選）和電位圖測量
觀察電位差的同時進行雙/三鎳測量。



多層涂層最多可達 5 層

對于多層涂層，最多可設置 5 層測量條件。



也可以測量線材和小零件。

線材和小零件可以使用WT（線材測試儀）進行測量。*我們也接受有關測量方法的咨詢。



自動顯示所用電解液類型

根據薄膜和基材的組合自動顯示要使用的電解液。
您還可以在測量前輕松檢查表面處理方法。

電解膜厚計GCT-311介紹實例

大阪府S公司

鍍鎳/鍍銅等

青森縣H公司

鍍錫/鍍銅等

印度尼西亞

線材測量、多層Ni測量