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電解膜厚儀GCT-311針對純錫層測量的優勢
膜厚儀是測量覆膜膜厚的一種工具。但即使是相同的涂層測厚儀，不同的人或對不同種類、狀態基材上的相同涂層測量出來的數據也可能會存在較大差別，這是因為測量人員因素、測量漆膜的基體材質、厚度、表面狀況以及測量位置等造成的。因此，在使用測厚儀檢測涂層厚度時，不僅操作方法要正確，還必須針對具體基材進行調整。
對話框格式使其易于使用和數據處理。
具備電位圖形顯示、統計處理等功能。
最多可注冊 50 個通道的測量條件。
可對純錫層和合金錫層分別進行“錫/銅"測量。
可以在使用參考電極（可選）和電位圖測量
觀察電位差的同時進行雙/三鎳測量。
對于多層涂層，最多可設置 5 層測量條件。
線材和小零件可以使用WT（線材測試儀）進行測量。*我們也接受有關測量方法的咨詢。
根據薄膜和基材的組合自動顯示要使用的電解液。
您還可以在測量前輕松檢查表面處理方法。
鍍鎳/鍍銅等
鍍錫/鍍銅等
線材測量、多層Ni測量
